磁気粒子検査感度試験用A1/C/D/M1/A2/C2

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Magnetic Particle Inspection Sensitivity Test Piece A1/C/D/M1/A2/C2
特徴 ギャラリー 製品の説明 今雑談しなさい
特徴
仕様
名前: A1 磁粉検査試験片
使用法: 表面または表面近くの欠陥を検出して欠陥を検証する
ハイライト:

磁気探傷点検

,

磁気粒子検査 ndt

,

磁気探傷テスト

基本情報
起源の場所: 中国
ブランド名: TESTECH
証明: ISO,CE
モデル番号: A1\C\D\M1
お支払配送条件
パッケージの詳細: カートンで
受渡し時間: 3~7日
支払条件: T/T、クレジットカード、ペイパル、ウェスタンユニオン
供給の能力: 5000個/月
製品の説明
1. タイプA1試験片(厚さ100μm、汎用)

この試験片には、A1-7/50、A1-15/50、A1-30/50、A1-15/100、A-30/100、およびA-60/100が含まれます。

磁気粒子検査感度試験用A1/C/D/M1/A2/C2 0

溝深さ μm 感度
A1 7/50 7±1.0 μm 高感度 (11~12)D3520~3840A/m (44~48 Oe)
A1 15/50 15±2.0 μm 中感度 (8~9)D2560~2880A/m (32~36 Oe)
A1 30/50 30±4.0 μm 低感度 (5~6)D1600~1920A/m (20~24 Oe)
A1 15/100 15±2.0 μm 高感度 (11~12)D3520~3840A/m (44~48 Oe)
A1 30/100 30±4.0 μm 中感度 (8~9)D2560~2880A/m (32~36 Oe)
A1 60/100 60±8.0 μm 低感度 (5~6)D1600~1920A/m (20~24 Oe)
  • 溝深さの選択と感度のマッチング:タイプA1試験片は、15μm、30μm、60μmなどの様々な溝深さで利用可能です。高感度要件(例:薄肉ワークピース)の場合は浅い溝(15μm)を選択し、厚肉ワークピースまたは低感度要件の場合は深い溝(60μm)を選択して、溝深さとワークピースの要件の不一致による誤判定を避けてください。
  • 過度の曲げを避ける:タイプA1試験片は比較的厚く(100μm)、柔軟性に乏しいです。曲面ワークピースに貼り付ける際は、ゆっくりと貼り付け、無理な曲げを避けて破損や溝の変形を防いでください。
2. タイプC試験片(厚さ50μm、狭い領域用)
磁気粒子検査感度試験用A1/C/D/M1/A2/C2 1
  • 分割と使用仕様:タイプC試験片は、分割線に沿って5mm×10mmの قطعةにカットできます。カットする際は、特殊な工具(例:刃)を使用して、目盛り線に沿ってきれいにカットし、バリが磁気痕表示に影響を与えないようにしてください。
  • 狭い領域への接着技術:溶接開先やボルト穴周辺などの狭い領域に接着する際は、テープを使用して試験片の端を固定し、ワークピース表面に完全に接着するようにして、磁化中に剥がれて磁場漏れを引き起こすのを防いでください。
3. タイプD試験片(厚さ50μm、特殊用途向け)
磁気粒子検査感度試験用A1/C/D/M1/A2/C2 2
  • 適用アプリケーションシナリオの確認:タイプD試験片は比較的特殊な用途(例:特定の厚さの薄肉部品の検査)があります。使用前に、検査基準(例:JIS G0565またはGB/T 15822)を参照して、現在のワークピースの検査要件を満たしているか確認し、誤った試験片タイプの使用を避けてください。
  • 磁気マーキング比較検証:タイプD試験片に関するデータは限られているため、検査後、同じ場所で同じ仕様のA1タイプ試験片を使用して磁気マーキングの鮮明度を比較し、検査結果の信頼性を確保することをお勧めします。
4. M1タイプ試験片(厚さ50μm、連続法専用、単一円形溝)
  • 連続法検査のみ:M1タイプ試験片は連続法検査(磁化と磁性体塗布が同期)用に設計されています。残留磁気検査での使用は禁止されており、そうしないと、残留磁気が不十分なため、異なる直径の3つの溝の磁気痕が表示されません。
  • マルチグルーブ磁気痕の解釈:M1タイプ試験片には、12mm(深さ7μm)、9mm(深さ15μm)、6mm(深さ30μm)の3つの円形溝があります。通常の状態では、3つの溝すべてが鮮明な磁気痕を表示する必要があります。いずれかの溝に痕が表示されない場合は、磁化方向が溝の接線方向と一致しているか確認してください(磁場方向は溝の円周接線に対して垂直でなければなりません)。
使用後の処理と記録
  1. 試験片の回収と保管:検査後、試験片はワークピースから慎重に剥がし、洗浄し、乾燥した容器に保管して、湿気や錆を防ぐ必要があります。破損または刻印が不鮮明な試験片は直ちに廃棄し、再利用してはなりません。
  2. 完全な試験記録:記録には、試験片タイプ(例:A1-15μm)、貼り付け場所、磁化パラメータ、および磁気痕の表示を明確に記載し、後日のトレーサビリティを容易にする必要があります。特に、異なるタイプの試験片に対する特別な操作(例:Cタイプの分割サイズ、M1タイプの検査方法)は別途マークする必要があります。
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