Nhà /Sản phẩm/Thiết bị tia X NDT/Băng keo đánh dấu chì NDT Chẩn đoán hình ảnh không phá hủy phát hiện khuyết tật

Băng keo đánh dấu chì NDT Chẩn đoán hình ảnh không phá hủy phát hiện khuyết tật

1 mảnh
MOQ
Bulk discount
giá bán
Non Destructive Radiology Flaw Detecting NDT Lead Letter Marker Tape
Đặc trưng Bộ sưu tập Mô tả sản phẩm nói chuyện ngay.
Đặc trưng
Thông số kỹ thuật
Làm nổi bật:

Thiết bị tia X NDT

,

Máy X quang NDT

,

Thiết bị thử nghiệm
Thông tin cơ bản
Hàng hiệu: TESTECH
Chứng nhận: CE, ISO
Số mô hình: Băng chữ chì
Thanh toán
chi tiết đóng gói: trong thùng carton
Thời gian giao hàng: 3-7 ngày
Điều khoản thanh toán: T/T, Thẻ Tín Dụng, Paypal, Western Union
Khả năng cung cấp: 5000 CÁI / tháng
Mô tả sản phẩm

Băng đánh dấu chì NDT cho phát hiện khuyết tật bằng chụp ảnh phóng xạ

Băng keo đánh dấu chì NDT Chẩn đoán hình ảnh không phá hủy phát hiện khuyết tật 0

Băng keo đánh dấu chì NDT Chẩn đoán hình ảnh không phá hủy phát hiện khuyết tật 1

Từ khóa:

Máy đo mật độ kỹ thuật số cầm tay

Chụp X quang NDT

Ruler định vị lỗi

Sản phẩm khuyến cáo
Hãy liên lạc với chúng tôi
Người liên hệ : Linda
Tel : +86 13488765676
Ký tự còn lại(20/3000)
Liên lạc
Tòa nhà Huihuang Guoji số 4, đường Thượng Địa 10, quận Hải Điền, thành phố Bắc Kinh, TRUNG QUỐC
sales@testechgroup.com
+86 13488765676
về
Hồ sơ công ty Tham quan nhà máy Kiểm soát chất lượng Liên hệ chúng tôi
Sản phẩm
Thiết bị kiểm tra không phá hủyKiểm tra hạt từ MPIĐo độ dày lớp phủ Tất cả danh mục
Gửi thư cho chúng tôi
Hãy cho chúng tôi biết yêu cầu của bạn. Chúng tôi sẽ kết nối các sản phẩm tốt nhất với bạn.
Sơ đồ trang web │ Trang di động │ Chính sách bảo mật
Trung Quốc tốt chất lượng Thiết bị kiểm tra không phá hủy nhà cung cấp. © 2009 - 2026 Testech Group Co., Ltd. All Rights Reserved.