Miernik grubości powłoki może niedestrukcyjnie mierzyć grubość nieprzewodzących powłok na metalowych powierzchniach oraz nieferromagnetycznych powłok metalowych na metalach ferromagnetycznych (np. żelazo, nikiel, kobalt itp.), w tym mierzyć grubość farby na powierzchni żelaza, stali nierdzewnej lub warstwy galwanicznej, mierzyć grubość farby na powierzchni aluminium, miedzi lub folii plastikowej.
EC-470 posiada wbudowaną zintegrowaną sondę indukcji magnetycznej i prądów wirowych, z zakresem pomiarowym 0~2000μm i dokładnością pomiaru ±(3%+1μm), a rozdzielczość wynosi do 0,1μm.
EC-470 posiada opływowy interfejs wyświetlacza z funkcją automatycznego obracania ekranu, która może jednocześnie wyświetlać wartości średnie, minimalne i maksymalne. Podczas pomiaru użytkownicy muszą jedynie szybko przyłożyć końcówkę sondy do mierzonej powierzchni obiektu. W trakcie procesu cofania sondy do wnętrza przyrządu, może on automatycznie rozróżnić właściwości podłoża i zmierzyć grubość warstwy powłoki (galwanicznej).
| Model | EC-470 |
|---|---|
| Typ sondy | Sonda wewnętrzna |
| Zasada pomiaru | Fe:Indukcja magnetyczna;NFe:Prądy wirowe |
| Zakres pomiarowy | 0~2000μm |
| Dokładność | ±(3%+1μm) |
| Rozdzielczość | 0,1μm (0~100μm); 1μm (>100μm) |
| Jednostka | μm, mm, mil |
| Identyfikacja podłoża ocynkowanego żelaznego | 3~500μm |
| Kalibracja | Kalibracja zerowa |
| Statystyka | Liczba odczytów, Max, Min, Średnia |
| Siła wyzwalania sondy | 0,3~0,8N |
| Minimalny promień krzywizny | Wypukły 5mm; Wklęsły 25mm |
| Minimalny obszar pomiaru | Średnica 15mm |
| Minimalna grubość podłoża | Fe:0,30mm; NFe:0,05mm |
| Maksymalna szybkość pomiaru | 2 odczyty/s |
| Wyświetlacz | Wyświetlacz matrycowy |
| Środowisko pracy | Temperatura: -10~50℃; Wilgotność: 20~90% RH (bez kondensacji) |
| Środowisko przechowywania | Temperatura: -20~60℃; Wilgotność: 20~90% RH (bez kondensacji) |
| Zasilanie | 2 szt. baterii alkalicznych AAA 1,5V 2 szt. akumulatorów AAA 1,2V |
| Klasa ochrony | IP40 |
| Rozmiar | 102*53,6*25mm |
| Waga | Około 80g (bez baterii) |