K-1688 可以在一秒或更短的时间内分析常见合金。该系统基于 Microsoft WINCE 平台构建,与计算机平台兼容性更好,便于数据通信。用户只需会使用电脑即可操作该设备。该设备采用了 KMS-Ray 专利技术(镜面系统设计)。系统运行过程中产生的临时文件会在设备重启后自动删除,可保证十年如新般流畅运行。一键式系统测试,从开机到测试一步到位,测试从未如此便捷。
| 重量 | 设备:1.50kg,带电池1.65kg |
| 尺寸 | 250mm x 75mm x 270mm (长*宽*高) |
| 激发源 | 大功率高性能X射线微聚焦管 |
| 靶材 | 射线管有5种可选靶材:金 (Au)、银 (Ag)、 钨 (W)、钽 (Ta)、钯 (Pd) |
| 电压 | 35kV-50kV 电压(可调) |
| 滤光片 | 多种可选滤光片,自动调节 以适应不同的测试对象 |
| 探测器 | 高分辨率Si-Pin探测器 |
| 探测器制冷温度 | Peltier效应半导体制冷系统 |
| 标准膜 | 316个外置标准膜/窗口保护罩 (可选配内置标准膜) |
| 电源 | 1块锂电池 (7.2v6600mAh) |
| 处理器 | 高性能ARM脉冲处理器 |
| 操作系统 | Windows CE6.0 |
| 数据传输 | 通过蓝牙和Wifi热点共享 |
| 标准模式 | K-MAX Alloy Plus 6.0 |
| 数据处理 | 32G大容量数据存储卡:≥80000组数据和光谱图 |