| गारंटी | 1 वर्ष |
|---|---|
| प्रकार | एनडीटी परीक्षण |
| मॉडल नंबर | वी1 वी2 |
| प्रोडक्ट का नाम | अल्ट्रासोनिक दोष डिटेक्टर अंशांकन ब्लॉक मानक परीक्षण ब्लॉक |
| मुख्य शब्द | IIW V-2, IIW V2 |
| उत्पाद | टाइप बी चुंबकीय कण परीक्षण ब्लॉक |
|---|---|
| केंद्र छिद्र | व्यास 31.8 मिमी |
| सतह की दूरी | 1.78मिमी-21.34मिमी |
| दोष छिद्र | Φ1.78 मिमी |
| प्रमुखता देना | चुंबकीय कण निरीक्षण,चुंबकीय कण निरीक्षण एनडीटी,चुंबकीय कण परीक्षण |
| गारंटी | 1 वर्ष |
|---|---|
| प्रकार | एनडीटी परीक्षण |
| मॉडल नंबर | वी1 वी2 |
| प्रोडक्ट का नाम | अल्ट्रासोनिक दोष डिटेक्टर अंशांकन ब्लॉक मानक परीक्षण ब्लॉक |
| मोटाई | 12.5 मिमी, 20 मिमी, 25 मिमी |
| उत्पाद | कार्बन स्टील ब्लॉक एएसएमई कैलिब्रेशन ब्लॉक |
|---|---|
| मानक | एएसएमई बीपीवीसी-वी-2019 |
| मामला | एल्युमीनियम कैरी केस और प्रमाणपत्र के साथ आएं |
| प्रोडक्ट का नाम | एएसएमई पाइप कैलिब्रेशन ब्लॉक |
| आयामी सहिष्णुता | ±0.01मिमी |
| गारंटी | 2 साल |
|---|---|
| अनुकूलित समर्थन | ओईएम, ओडीएम |
| उत्पत्ति का स्थान | चीन |
| मॉडल नंबर | केटोस बी |
| प्रोडक्ट का नाम | डीसी रिंग मानक परीक्षण ब्लॉक |
| गारंटी | 3 वर्ष |
|---|---|
| प्रकार | एनडीटी परीक्षण |
| उत्पत्ति का स्थान | बीजिंग चाइना |
| brand name | TESTECH |
| प्रोडक्ट का नाम | चरणबद्ध सारणी परीक्षण ब्लॉक |
| उत्पाद | कार्बन स्टील ब्लॉक नॉन-पाइपिंग एएसएमई कैलिब्रेशन ब्लॉक |
|---|---|
| मानक | एएसएमई बीपीवीसी-वी-2015 |
| प्रमाणपत्र | हाँ, प्रमाणपत्र के साथ |
| मामला | एल्युमीनियम कैरी केस और प्रमाणपत्र के साथ आएं |
| सामग्री | कार्बन स्टील / स्टेनलेस स्टील (वैकल्पिक) |
| गारंटी | 1 वर्ष |
|---|---|
| उठाने का बल | 45 एन; 118 एन; 177 एन; |
| मॉडल नंबर | एन1, एन2, एन3 |
| परीक्षण मानक | एएसटीएम ई1444 |
| प्रोडक्ट का नाम | टेस्टेक एनडीटी चुंबकीय दोष डिटेक्टर सहायक उपकरण मृत वजन परीक्षण ब्लॉक |
| उत्पाद | यूटी प्लेट वेल्ड वेल्डिंग परीक्षण ब्लॉक |
|---|---|
| आकार | 300*300*20 |
| सामग्री | कार्बन स्टील |
| प्रमुखता देना | दोष वाले अल्ट्रासोनिक कैलिब्रेशन ब्लॉक,कार्बन स्टील अल्ट्रासोनिक कैलिब्रेशन ब्लॉक,अल्ट्रासोनिक परीक्षण के लिए मैनुअल कैलिब्रेशन ब्लॉक |
| पैकेजिंग विवरण | कार्टन में |
| प्रकार | स्कैनिंग सरफेस ब्लाइंड एरिया टेस्ट ब्लॉक |
|---|---|
| समारोह | स्कैनिंग सरफेस ब्लाइंड एरिया की ऊंचाई मापें |
| उद्देश्य | अंधे क्षेत्र की ऊंचाई माप |
| प्रयोग | जांच उपकरण अंशांकन/परीक्षण |
| प्रमुखता देना | स्कैनिंग सतह अल्ट्रासोनिक कैलिब्रेशन ब्लॉक,ऊंचाई माप अल्ट्रासोनिक कैलिब्रेशन ब्लॉक,स्कैनिंग सतह अल्ट्रासोनिक परीक्षण ब्लॉक |
