| प्रदर्शन | 180 डिग्री घूमने वाली डिस्प्ले स्क्रीन |
|---|---|
| माप सिद्धांत | Fe: चुंबकीय प्रेरण; एनएफई: एड़ी वर्तमान प्रभाव |
| कैलिब्रेशन | शून्य अंशांकन, बिंदु अंशांकन |
| भंडारण | 2000 माप |
| नमूना | ईसी-770-पी |
| उत्पाद | कोटिंग मोटाई गेज |
|---|---|
| माप सिद्धांत | (Fe) और एड़ी धारा (NFe) |
| शुद्धता | ±(3%+1μm) |
| इकाई | μm, मिमी, मिल |
| अंशांकन पद्धति | शून्य अंशांकन |
| प्रकार | टाइप I छोटा व्यास पाइप / टाइप II नालीदार |
|---|---|
| आवेदन | एक्स-रे दोष का पता लगाना, गैर-विनाशकारी परीक्षण |
| प्रयोग | पाइप वेल्ड निरीक्षण, अंशांकन एवं मूल्यांकन |
| शुद्धता | उच्च परिशुद्धता संदर्भ मानक |
| प्रमुखता देना | रेडियोग्राफिक NDT रेडियोग्राफी उपकरण,रेडियोग्राफिक NDT एक्स-रे उपकरण |
| सामग्री | कार्बन स्टील; Cu; अल |
|---|---|
| प्रयोग | रॉकवेल कठोरता परीक्षक |
| मानक | एएसटीएम ई18 |
| प्रमाणपत्र | फ़ैक्टरी प्रमाणपत्र, तृतीय पक्ष प्रमाणपत्र |
| प्रमुखता देना | hra कठोरता परीक्षक,hra हीरा एचआरसी कठोरता,एचआरबी कठोरता परीक्षक |
| उत्पाद | क्रोम-प्लेटेड स्टेनलेस स्टील का डाई पेनेट्रेंट निरीक्षण |
|---|---|
| आवेदन | तरल प्रवेशक परीक्षण (एलपीटी) |
| सामग्री | क्रोम-प्लेटेड स्टेनलेस स्टील |
| मानक | एएसटीएम ई1417 एएस2083/बीएस2704 आईएसओ 3452-3 |
| दोष गहराई | 100μM |
| उत्पाद | प्रवेशक परीक्षण संदर्भ ब्लॉक प्रकार 2 |
|---|---|
| सामग्री | क्रोम-प्लेटेड 2Cr13 स्टेनलेस स्टील |
| क्रोम प्लेट की मोटाई | 40-60μm |
| दरार की गहराई | 3.0-5.5 मिमी |
| मानक | आईएसओ 3452-3 | एन 10204-3.1 |
| माप सीमा | Ra, Rq: 0.05~15.0μm Rz,Rt: 0.1~50.0μm |
|---|---|
| शक्ति | निर्मित लिथियम आयन बैटरी |
| आकार | 106mmx70mmx24mm |
| शुद्धता | 0.01μm |
| गलती | ≤ ±15% |
| प्रदर्शन | 3.5" रंगीन टचस्क्रीन एलसीडी |
|---|---|
| परीक्षा | तरंगरूप सहित अंतिम डेटा क्षमताएं |
| उपाय | 22 पैरामीटर |
| रा आरक्यू रेंज | 0.005μm ~ 32μm |
| आरजेड आरटी राय रेंज | 0.02μm ~ 320μm |
| गारंटी | 1 वर्ष |
|---|---|
| प्रदर्शन | 256*64 OLED |
| प्रकार | एनडीटी परीक्षण |
| प्रोडक्ट का नाम | सतह खुरदरापन परीक्षण मशीन |
| मुख्य शब्द | खुरदरापन माप |
| प्रोडक्ट का नाम | विद्युत चुम्बकीय अल्ट्रासोनिक मोटाई गेज |
|---|---|
| तकनीकी | EMAT विद्युत चुम्बकीय ध्वनिक ट्रांसड्यूसर |
| बारीकी से जांच करने की प्रणाली | ए-स्कैन और बी-स्कैन समर्थित |
| नमूना दर | 80 एमएसपी |
| मापने की सीमा | 0.75 ~ 240 मिमी |
