Ο φασματομετρητής VL-4000 έχει σχεδιαστεί για βιομηχανικά αναλυτικά εργαστήρια μηχανολογικών, μεταλλουργικών και μεταλλουργικών εργοστασίων. Ο φασματομετρητής είναι ικανός να αντικαταστήσει ένα ολόκληρο εργαστήριο για τον προσδιορισμό της χημικής σύνθεσης μετάλλων και κραμάτων, επηρεάζοντας σημαντικά την ποιότητα των προϊόντων. Το VL-4000 αντιπροσωπεύει την καλύτερη λύση για πελάτες που χρειάζονται ταχύτητα, υψηλά τεχνικά χαρακτηριστικά, αξιοπιστία και υψηλή ακρίβεια στον προσδιορισμό της συνολικής στοιχειακής σύνθεσης μετάλλου.
Ο φασματομετρητής VL-4000 μπορεί να χρησιμοποιηθεί στην ποσοτική ανάλυση στερεών μεταλλικών δειγμάτων και στην αναγνώριση βαθμού. Οπτικό σύστημα με ανιχνευτή CCD, το φασματικό εύρος καλύπτει όλα τα τυπικά υλικά. Τα όργανα είναι εξοπλισμένα με μηχανή σπινθήρα με έκπλυση αργού, η ανοιχτή σχεδίαση βάσης σπινθήρα είναι κατάλληλη για την ανάλυση δειγμάτων με διαφορετικά σχήματα και μεγέθη.
| Αρ. | ΕΙΔΗ | ΜΟΝΑΔΑ | ΠΟΙΟΤ. | ΠΑΡΑΤΗΡΗΣΗ |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Φασματομετρητής Οπτικής Εκπομπής VL-4000 | ΤΕΜ. | 1 | |
| 2 | Αναλυτική Βάση | ΤΕΜ. | 1 | Βάση Fe |
| 3 | Αναλυτική Καμπύλη | ΤΕΜ. | 1 | |
| 4 | Δείγμα Επαναβαθμονόμησης | ΤΕΜ. | 1 | |
| 5 | Πνευματικός σωλήνας και εξάρτημα | Μ | 2 | |
| 6 | Βαλβίδα μείωσης πίεσης οξυγόνου και εξάρτημα | ΤΕΜ. | 1 | |
| 7 | Καλώδιο τροφοδοσίας | ΤΕΜ. | 1 | |
| 8 | Καλώδιο μετάδοσης σήματος | ΤΕΜ. | 1 | |
| 9 | Λογισμικό λειτουργίας | ΤΕΜ. | 1 | |
| 10 | Εγχειρίδιο χρήστη | ΤΕΜ. | 1 | |
| 11 | Πιστοποιητικό ποιότητας | ΤΕΜ. | 1 | |
| 12 | Λίστα πλήρους συσκευασίας | ΤΕΜ. | 1 | |
| 13 | Λίστα εργαλείων και ανταλλακτικών | ΤΕΜ. | 1 | |
| 14 | Εγγυητήριο | ΤΕΜ. | 1 | |
| 15 | Φόρμα παράδοσης για εγκατάσταση και αποδοχή | ΤΕΜ. | 2 |
| Είδος | Στοιχείο | Fe-001 |
|---|---|---|
| Χάλυβας χαμηλής κραματοποίησης | ||
| 1 | C | 0.006-1.19 |
| 2 | Si | 0.013-3.86 |
| 3 | Mn | 0.034-2.2 |
| 4 | P | 0.0019-0.13 |
| 5 | S | 0.0009-0.364 |
| 6 | Cr | 0.016-4.83 |
| 7 | Ni | 0.0082-4.4 |
| 8 | Mo | 0.004-4.19 |
| 9 | Al | 0.0021-1.27 |
| 10 | Cu | 0.0032-0.8 |
| 11 | Co | 0.004-0.504 |
| 12 | Ti | 0.001-1.18 |
| 13 | Nb | 0.004-1.04 |
| 14 | V | 0.0082-0.9 |
| 15 | W | 0.005-2.07 |
| 16 | Pb | 0.003-0.26 |
| 17 | B | 0.0003-0.019 |
| 18 | Sn | 0.0016-0.039 |
| 19 | As | 0.007-0.174 |
| 20 | Bi | 0.0019-0.021 |
| 21 | Zr | 0.004-0.57 |
| 22 | Ca | 0.0004-0.0015 |
| 23 | Fe | Υπόλοιπο |
| Αρ. | Είδος | Μάρκα | Εταιρεία ή Προέλευση |
|---|---|---|---|
| 1 | Γραμμικό CCD | Toshiba | Ιαπωνία |
| 2 | Οπτικό πλέγμα | Zeiss | Γερμανία |
| 3 | Οπτικοί φακοί | Zeiss | Γερμανία |
| 4 | Οπτική ίνα | Agilent | ΗΠΑ |
| 5 | Σχισμή | lenoxlaser | ΗΠΑ |
| 6 | Φίλτρο | TDK | Ιαπωνία |
| 7 | Αισθητήρας πίεσης | SSI | Καναδάς |
| 8 | Ηλεκτρομαγνητική βαλβίδα | Burkert | Γερμανία |
| 9 | Μονάδα πηγής φωτός | CREATE | - |
| 10 | Μονάδα ελέγχου συστήματος | CREATE | - |
| 11 | Μονάδα συλλογής δεδομένων | CREATE | - |
| 12 | Μονάδα βάσης διέγερσης | CREATE | - |
| 13 | Λογισμικό | CREATE | - |