| Garantie | 1 jaar |
|---|---|
| Ondersteuning op maat | OEM |
| Plaats van herkomst | China |
| brand name | TESTECH |
| Model | EC-570 |
| Product | Hoogwaardige industriële instrumenten Coating Diktemeter |
|---|---|
| eenheid | Eenheid μm, mm, mil |
| Het meten van principe | Fe: magnetische inductie; NFe: wervelstroomeffect |
| Kalibratie | Nulkalibratie, puntkalibratie |
| Nauwkeurigheid | ±(2%+1μm) |
| Meten_principe | Magnetische inductie-wervelstroom |
|---|---|
| Materiaal | ABS-kunststof behuizing |
| Meetbereik | 0-2000um |
| kalibratiemethode | Nulkalibratie Meerpuntskalibratie |
| Sollicitatie | NDT Coating Verf Emaille Chroom Anodiseren Diktetesten |
| Product | Hoogwaardige industriële instrumenten Coating Diktemeter |
|---|---|
| eenheid | Eenheid μm, mm, mil |
| Het meten van principe | Fe: magnetische inductie; NFe: wervelstroomeffect |
| Kalibratie | Nulkalibratie, puntkalibratie |
| Nauwkeurigheid | ±(2%+1μm) |
| Garantie | echo-naar-echo ultrasone diktemeter met dubbele kristalsonde |
|---|---|
| Meetbereik | 0,8 mm tot 300 mm in standaardmodus, 3 mm-20 mm in door-coatingmodus |
| Oplossing | 0,01 mm, 0,001 inch |
| brand name | TESTECH |
| Modelnummer | UM-2 |
| Garantie | 1 jaar |
|---|---|
| Ondersteuning op maat | OEM |
| Plaats van herkomst | China |
| brand name | TESTECH |
| Model | EC-555 |
| Product | De Maat van de deklaagdikte |
|---|---|
| Het meten van principe | (Fe) & Wervelstroom (NFe) |
| Nauwkeurigheid | ±(3%+1μm) |
| eenheid | μm, mm, mil |
| Kalibratiemethode | Nul kalibratie |
| Weergave | 180 graden draaibaar beeldscherm |
|---|---|
| Het meten van principe | Fe: magnetische inductie; NFe: wervelstroomeffect |
| Kalibratie | Nulkalibratie, puntkalibratie |
| Opslag | 2000 metingen |
| Model | EC-770-P |
| Garantie | 2 jaar |
|---|---|
| Ondersteuning op maat | OEM |
| Plaats van herkomst | China |
| brand name | TESTECH |
| Modelnummer | EC-666 |
| Garantie | 1 jaar |
|---|---|
| Ondersteuning op maat | OEM |
| Productnaam | Loodgietersinspectie Rupsrobotcamera |
| Testbereik | 0-500 μm |
| Testnauwkeurigheid | 0-50μm: ±1μm; 50-500μm: ±2% |